(주)엘립소테크놀러지
0.0제조/화학
소개글
Ellipsometer를 기반으로 하여 2000년 7월 창립한 당사는 얇은 막(Thin Film)의 구조와 물성 그리고 막에 의한 빛의 편광상태변화(Polarization State Change)를 측정, 분석하는 초정밀 광학장비를 공급하고 있습니다. Ellipsometry, Polarimetry 등에 관한 세계 일류의 기업을 지향하며 삼십년 이상 축적된 학문적, 기술적인 수월성을 바탕으로 박막과 편광에 관한 최선의 자문을 제공함으로써 더불어 성장하고자 합니다. 당사는 개인과 사회 그리고 국가가 조화롭게 발전하는 아름다운 공동체의 형성에 기여하고자 합니다. 이러한 바람은 자율적으로 협조하며 각자 최선을 다하는 당사 임직원들의 헌신적인 노력과, 신뢰하고 맡겨주시는 귀사의 아량으로 구현될 수 있음을 잘 알고 있습니다. 더불어 나아갈 수 있도록 격려해 주시기를 간곡히 부탁드리며 이로써 인사말을 대신하고자 합니다.
산업반도체/광학/디스플레이
기업형태중소기업
사원수15명
설립2000.07.10
- 대표김상열
- 매출20억 4천만 원 (2013)
- 주소경기 수원시 팔달구 권광로 358, 2층 (우만동,엘타워)
- 웹사이트
- 연혁- 2000년 12. 산업자원부 과제 협약체결 (회전편광자 방식의 고속 분광타원계 개발) 07. Ellipso Technology Co., Ltd. 설립 / 벤처기업 인증 획득 (기술평가우수기업) / 07. 단파장 타원계 개발 05. 경기 벤처 창업 경연대회 우수상 / 예비 벤처기업 인증 획득 - 2001년 08. 경기중소기업종합지원센터(KSBC) 입주 / 06. 산학연공동컨소시엄 과제 협약체결 (자동화된 2차원 스캐닝 타원계 개발) 05. 기술혁신개발사업 과제 협약체결 (로 내부 모니터용 영상시스템 개발) 01. 실용신안등록 (고속 분광타원 해석기) - 2002년 11. m-FFT를 이용한 ellipso-spectrometer 개발 / 벤처기업 재인증 (신기술기업) 08. 특허 등록 (회전검광자형 in situ 타원계) 05. 산학연공동컨소시엄 과제 협약체결 (과제명: 2파장 타원계 개발) 04. (주) 엘립소 테크놀러지 기업부설연구소 인가 03. 로내 vision 개발 / 2차원 스캐닝 타원계 개발 02. 아주대학교 창업보육센터 입주 / 가변입사각 타원계 개발 - 2003년 12. 산업자원부 과제 협약체결 (광대역 막두께 측정용 타원분광계) 10. Micro 반사율/투과율 광학계 개발 09. In Situ Monitoring, Dielectric Coating System 개발 08. 특허 등록(초고속 분광타원계, 출원 : '01.12) 08. 기술혁신 개발사업 과제협약 (타원분광계) 07. 특허 등록 (개선된 고속 푸리에 변환을 이용한 막두께 측정 광계측기, 출원 '03.01) 06. Micro 투과율 광학계 개발 05. 고속 분광타원계 개발 02. 2파장 타원계 개발 - 2004년 12. 특허 등록 (노(爐) 내부 감시용 결상 광학계, 출원 : '02.05) 08. 특허 출원 04. 지진 감지기 개발 / 본사 이전 (수원시 팔달구 우만동) 03. 편광제어 Micro 투과율 Profiler 광학계 개발 03. 특허 등록 (진폭분할 편광측정기를 사용한 초고속 타원계, 출원 : '01.05) - 2005년 08. 국외 특허 출원- 일본 07. 특허 등록 (엘시디 유리기판의 굴곡측정장치, 출원 : '02.07) 07. 국외 특허 출원- 일본,미국 04. 상표 등록 03. 특허 등록 (PDP 상부 유리기판의 MgO 보호막 두께 측정장치 및 그 방법, 출원 : '04.10) 02. CE-mark 획득 - 2006년 11. 자동 가변 입사 방식 타원계 개발 (Elli-SE-V) 11. 벤처기업 재인증(신기술기업) 11. 특허 등록 (수직 편광판을 이용한 3차원 소광 구조, 출원 : '06.07) 09. 위상지연판 측정 장비 개발 (Rin, Rth 고속 정밀 측정기) 08. 특허 등록 (편광판 흡수축 틀어짐 측정 방법, 출원 : '06.06) 07. 산학연공동컨소시엄 과제 협약 체결 (편광 소재의 광축 측정용 고속 계측 장비 개발) 06. 일본 판매 대리점 계약(Miwaopto) 06. 공통핵심기술개발사업 협약 체결 (편광복합소재의 광축 정밀 측정장비 개발) 06. 특허 등록 (편광판과 위상지연판이 접합된 시료의 광축 정렬 오차 측정 장치 및 그 방법, 출원 : '04.08) 04. 나노소자특화팹센터 장비 출연 (분광타원계 Elli-SE-F) 03. 초고속 초정밀 Air-Gap 측정장비 개발 - 2007년 12. INNO-BIZ 인증 획득 11. 고정밀 retardation 측정장비 개발 08. 고정밀 CR 측정장비 개발(CR > 100만) 07. in line MgO 측정기시스템 개발 03. 나노소자특화팹센터로 본사이전 - 2008년 11. 고정밀 retardation 측정장비 개발 11. SWE 제1호 미국 수출 (The Pennsylvania State Univ.) 11. 경기도 기술개발사업 협약 체결 (과제명 : LCD 배향막 검사 장비 개발) 10. 미국특허등록 (출원번호 : USA 7,443,512 B2, 출원 : '05.07) (APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF FILM THICKNESS USING IMPROVED FAST FOURIER TRANSFORMATION) 08. 특허 등록 (실리콘웨이퍼 두께 측정 방법, 출원 : '08.03) 07. 특허 등록 (편광복합소재의 광축 정밀 측정장비 개발, 출원 : '08.06) 04. 복합판 WV 위상판 분석 장치 개발 03. PDP 상부 유리기판의 MgO 보호막 측정기 제1호 중국 수출 03. 실리콘 wafer 두께 측정기 개발 - 2009년 12. 고속 측정 및 마이크로 spot 엘립소미터 개발. 11. SE 일본 수출 1호(Osaka University). 05. Textured 태양전지 전용 박막 측정 장비(Elli-Ri) 개발. - 2010년 12. INNO-BIZ 재인증 및 삼성 LCD In-Line 배향막검사장비 수주 11. 특허 등록 (마이크로 스폿 분광 타원계, 출원 : '08.09) 07. 본사신축하여 이전 05. 대만(PTT)에 첫 장비 수출 03. Developed Hi - Performance Analysis Software Ver4.1. 03. Developed Hi - Speed Spectroscopic Ellipsometer. - 2011년 06. Patented Textured Solar Cell Measurement System. 04. Developed LCD Alignment Layer Analysis System. 02. 벤처기업 재인증 (신기술기업) 01. Developing Micro Spot Spectroscopic Ellipsometer. - 2012년 07. Inspection Miroscope "Elli-Muv" 제품개발. 05. 특허 등록 (텍스처가 형성된 시료의 막 두께 측정방법, 출원 : '11.09) 05. Elli-SE S/W Program "Elli-50" launching. 01. 특허 등록 (배향막의 배향 상태 측정 장치 및 측정방법, 출원 : '10.02). - 2013년 09. SE 분석 소프트웨어 업그레이드(분석속도 대폭 향상). 04. 편광판 흡수(투과)축 측정장비 "Elli-PAS" 개발. 01. 신제품 개발 : 스마트 SE. - 2014년 12. 특허 등록 (터치스크린의 ITO 패턴 검사용 현미경 및 이를 이용한 터치 스크린 패널의 ITO 패턴 검사 방법, 출원 : '12.06) 02. 한국광학회 동계학술대회 전시회 참가. 02. 2014년도 한국광학회 우수논문상 수상 - 2015년 12. Elli-AAL 장비(배향막 측정 시스템, CE인증) 개발 - 초정밀 시료 자동정렬 모듈 개발 적용 01. Elli-SE 베트남, Elli-PAS 중국 수출 - 2016년 09. 산업통상자원부(한국산업기술평가관리원) 과제협약체결 (30 ㎛ 스팟 과 가변입사각 시스템을 겸비한 DUV 광대역 분광 타원계 개발) 05. 벤처기업등록(연구개발기업) 01. 액정학술대회(17) 및 2016년 한국광학회 동계학술대회 : 반사형 타원계를 이용한 폴리이미드 배향막의 광학이방성 정밀 측정 및 정량분석 01. 패턴인식 시스템 개발 - 2017년 12. 50 ㎛ 스팟 과 가변입사각 시스템을 겸비한 DUV 광대역 분광 타원계 개발(과제) 10. IMID 2017 한국디스플레이산업전시회 참가(COEX, 10.17~19) 09. 튿허출원 02. 2017년 한국광학회 동계학술대회 : (분광 타원법을 이용한 PET 필름의 광탄성 계수 및 잔류 응력 해석) 02. 분석 시스템 기능향상 02. 100 ㎛ 스팟, DUV 광대역 분광 타원계 개발(과제) 01. 특허출원 - 2018년 11. 특허 등록 (4-반사경을 적용한 마이크로 스폿 분광 타원계. 출원 : '17.01) 10. IMID 2018 한국디스플레이산업전시회 참가(COEX, 10.17~19) 10. 두께 1nm 측정 가능한 Sepctroscopic Reflecter 개발 01. 30 ㎛ 스팟 과 가변입사각 시스템을 겸비한 DUV 광대역 분광 타원계 개발 (3차년도 과제개발 기간 : 2018.01.01~2019.06.30) - 2019년 10. IMID 2019 한국디스플레이산업전시회 참가(예정) 02. 2019년 한국광학회 동계학술대회(02.20~22) : 분과초청 (편광자 연속회전 광량측정법과 Incomplete Fourier Transformation을 적용한 실시간 분광타원계의 개발) 01. 20 ㎛ Spot size Ellipsometer 개발 01. Fast Ellipsometer (측정시간 <= 1초) 개발
이런 기업은 어때요?
